HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱產(chǎn)品簡介

    該設(shè)備根據(jù)GB/T 4937.4半導體器件機械和氣候試驗方法 第4部分∶強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗（HAST）設(shè)計研發(fā)的一款設(shè)備，通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導體的交接面，來評價非氣密封裝半導體器件在潮濕的環(huán)境下的可靠性。

HAST半導體器件強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱說明

強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗通過施加嚴酷的溫度、濕度和偏置條件來加速潮氣穿透外部保護材料（灌封或密封）或外部保護材料和金屬導體的交接面。此試驗應力產(chǎn)生的失效機理通常與“85/85"穩(wěn)態(tài)溫濕度偏置壽命試驗（見IEC60749-5）相同。試驗方法可以從85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗或本試驗方法中選擇。在執(zhí)行兩種試驗方法時，85℃/85%RH穩(wěn)態(tài)壽命試驗的結(jié)果優(yōu)先于強加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(HAST)。

本試驗方法應被視為破壞性試驗。

hast高壓加速老化試驗箱特點：

1. 控制器運算采用模糊算法，技術(shù)控制，精度高，使之達到最佳效果；7″TFT真彩LCD觸摸屏，比其它屏更大。

2. 控制器人機界面互動友好形式設(shè)計，操作方便，運行更可靠。

3．具有USB接口直接拷貝記錄功能，包括歷史曲線，歷史數(shù)據(jù)等，直接拷貝到計算機查看分析及存盤。

4. 可選RS-232或RS-485通訊接口,可雙向操控機器及計算機硬盤儲存數(shù)據(jù)。

5. 可通過局域網(wǎng)或機器直接與電腦連接監(jiān)控本機器運行情況，及遠程操控機器。

6. 超大的程序容量：50組程序功能，每組程序可編輯50步。

7. 無結(jié)露設(shè)計、定制兩套專用產(chǎn)品架可滿足有邊框和無邊框光伏組件產(chǎn)品放置、內(nèi)箱圓弧式結(jié)構(gòu)可預防水珠直接滴落在產(chǎn)品上。

8. 飽和試驗（STD）和不飽和試驗（HUM）兩種試驗模式。

9．采用真空功能，機器運轉(zhuǎn)開始時抽出雜質(zhì)空氣，從而使箱內(nèi)環(huán)境達到純凈狀態(tài)。

10. 全自動補水模式,耗水少，持續(xù)試驗時間長

11. 干燥功能：試驗完成時，開啟干燥功能，杜絕水汽付在產(chǎn)品表面，還原產(chǎn)品試驗后最真實狀態(tài)。

12．符合IEC60068-2-66; JESD22-A102-C; JESD22-A110-B;JESD22-A118; GB/T 2423.40-1997等規(guī)范。

13. 水路配電盤分離技術(shù)，杜絕水路故障對電路系統(tǒng)造成影響。

14．可以根據(jù)產(chǎn)品狀態(tài)，定制專用產(chǎn)品架（免費）

15. 采用國際品牌部件，運行噪聲低，性能*。

16．以60秒鐘的采樣計算，可保證250天的實時曲線采樣和歷史數(shù)據(jù)的存貯；可以由3秒鐘到一小時，任意設(shè)定取樣速率。

17. hast加速老化試驗箱多段安全保護裝置： 試驗時全程檢測超溫超壓保護，第一階段儀表內(nèi)部超高溫保護，第二階段儀表內(nèi)部加濕器缺水防干燒保護，高壓力保護，水箱缺水報警斷電，第二階段加濕管極限溫度保護，第二階段超高壓保護，第三階段緊急泄壓保護，手動泄壓保護自動泄壓；漏電短路箱門關(guān)閉異常保護，故障報警故障原因及排除方法顯示，報警燈及蜂鳴器報警提示